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东方集成诚邀您参加2013年SNEC上海国际太阳能光伏展
2013-05-10


展会地点:中国·上海新国际博览中心
展会时间:2013年5月14日—16日

东方集成携手EKO、Sentech、Enli和IFG等厂家亮相2013'SNEC。
东方集成展位号:E2-115

展出内容:
  • 太阳能电池性能分析总体方案
  • 量子效率测试—台湾ENLI
    1. QE-R光谱响应测量系统(QE/IPCE)为依据IEC及NREL量测程序设计,用以测试太阳能电池的量子效率;
      enli QE-R 光谱响应测试系统 IPCE 量子效率测试
    2. SR-156是光焱科技独家研发的大面积光谱响应量测系统,独特的156×156 mm2照射面积,用以测量整片晶硅电池的光谱响应
      enli QE-156 大面积(大光斑)光谱响应测试系统 IPCE 量子效率测试
  • 薄膜电池测试系统
    1. 德国IFG
      IFG公司开发的针对薄膜电池的x射线荧光分析系统ELBRUS,用于分析薄膜电池的元素成分,厚度,均匀性等特性。
      ifg ELBRUS iXCAN 离线薄膜分析系统ELBRUS-COMPACT
    2. 德国SENETECH
      光伏行业测试的领先者Sentech研制的SE800 pv光谱椭偏仪,用来分析薄膜的厚度,折射率等光学参数。
      sentech SE800adv-PV 紫外/可见光光谱椭偏仪
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