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股票代码:002819

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SZ002819

400-650-5566

Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统

keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统
4200-SCS半导体特性分析系统采用了模块化、可配置、可升级的架构。这使得它能够准确满足当前的测量需求,也可以模块扩展以满足后续的需求。
? 支持多达9个精密直流源测量单元,能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压;
? 利用4210-CVU?-V)模块可以方便的在1KHz-10MHz测试频率下进行交流阻抗测试,可以测量的电容范围从aF级到uF级;
? 利用可选的4225-PMU超快I-V模块可以进行脉冲和瞬态测量。
吉时利交互式测试环境(KITE)提供了一套完整的图形用户界面,无需编程即可支持几乎所有类型的特性分析测试。它提供了多达456种标准的特性分析测试库,包括MOSFET、BJT晶体管、二极管、电阻器、电容器、太阳能电池、碳纳米管和NVM存储器,例如Flash、PRAM、PCRAM等。
? 配备可满足各类测试要求的高性价比探针台系统。
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