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Tektronix P6330 差分探头

Tektronix P6330 差分探头
产品型号:
P6330
产品名称:
差分探头
厂商名称:
Tektronix(泰克科技)
产品属性:
配件
产品状态:
停产
  对于高速电路设计人员,可提供宽频带、低负载、低噪声的差分测试方案。小型探头及探头尖附件可以使用户很容易、很方便地探测表面封装器件。
  适合于数字集成电路设计(RAMBUS,DDR,IEEE 1394,USB2.0和ATA)、通讯应用(千兆比以太网和光纤通道)以及磁盘驱动器方面宽频带信号的时域和频域测量。
技术参数
  带宽(仅指探头):3GHz(典型值)
  上升时间:<140ps<130ps(典型值)
  衰 减 比:5X
  差分输入电容:<0.5pF(典型值)
  差分输入电阻:100kΩ
  差分输入范围:±2V(20℃至30℃)
  共模输入范围:±25V(DC+PEAK AC)
  共模仰制比:>6dB 1MHz时(典型值)
  噪  声:近似为35nV/根下HZ
  接  口:TEKPROBE BNC
  电缆长度:1.3米
特点和优点
  3.0GHz带宽(典型值)
  <130ps上升时间
  低输入电容:<0.5pF差分(典型值)
  共模仰制比>60dB 1MHz(典型值)
  小型探头易探测SMD
  TEKPROBE Ⅱ BNC接口
  (可连接到TEKPROBE Ⅱ BNC接口的示波器,使用1103 TEKPROBE电源也可连接到其它示波器的BNC端)
应用
  通讯(千兆比以太网,光纤通道)
  半导体特性分析(RAMBUS,2倍速DRAM,AGP,IEEE 1394,USB2.0,ATA)磁盘驱动器读出磁道设计
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